Technické údaje

Hmotnost zařízení

»mμFocus« se snímačem »zep« a podstavcovým systémem 250 kg
»mμFocus« se snímačem »zep-R« a podstavcovým systémem 270 kg
»mμFocus« se snímačem »zep« bez podstavcového systému 75 kg

Senzor »zep« pro měření geometrie břitu

Osa Z 300 mm
AA (udává nejmenší vzdálenost mezi objektivem a měřeným objektem) Projekce pruhu 3
Princip měření 0 mm
Nejmenší měřitelný poloměr 3 μm
Numerická apertura

Senzor »zep-R« pro měření 3D geometrie břitu a drsnosti povrchu

Osa Z 300 mm
AA 20 mm
Princip měření Konfokální mikroskop
Nejmenší měřitelný poloměr 3 μm (hodnoty pro 20násobný objektiv; hodnoty pro 50násobný objektiv: 1,4 μm)
Číselná apertura 0,42 mm

Drsnost profilu: Výběr měřitelných parametrů podle norem ISO 4287 a ISO 13565

Ra aritmetický průměr po celé délce měření
Rq kvadratický průměr
Rt celková výška profilu drsnosti
Rmax maximální výška profilu drsnosti v rámci jednoho měřicího úseku
Rz průměrná výška profilu drsnosti
Rp výška největšího vrcholu profilu v profilu drsnosti
Rv hloubka největšího údolí profilu v profilu drsnosti
Rk hloubka jádra drsnosti, výška jádrové oblasti
Rpk redukovaná výška vrcholu
Rvk redukovaná hloubka rýhy
Mr1 podíl materiálu nad jádrovou oblastí (Abbottova křivka)
Mr2 podíl materiálu nesoucího zatížení (Abbottova křivka)
Rsm střední šířka drážky
RPc počet vrcholů

Drsnost povrchu: Výběr měřitelných parametrů podle norem ISO 25178-2 a ISO 16610

Sa střední aritmetická výška povrchu ohraničeného měřítkem
Sq střední kvadratická výška povrchu ohraničeného měřítkem
Sp maximální výška vrcholu povrchu ohraničeného měřítkem
Sv maximální výška prohlubně povrchu ohraničeného měřítkem
Sz maximální výška povrchu ohraničeného měřítkem
S10z Desetibodová výška povrchu
Ssk Šikmost povrchu ohraničeného měřítkem
Sku Kurtóza povrchu ohraničeného měřítkem
Sdq Střední kvadratický gradient povrchu ohraničeného měřítkem
Sdr Rozvinutý poměr přechodových ploch povrchu ohraničeného měřítkem
FLT rovinnost
Sk výška jádra
Spk redukovaná výška vrcholu
Svk redukovaná výška údolí
Smr1 podíl materiálu ve vrcholech
Smr2 podíl materiálu v údolích
Vmc Objem jádrového materiálu povrchu s omezeným měřítkem
Vmp Objem materiálu vrcholů povrchu s omezeným měřítkem
Vvc Prázdný objem jádra povrchu s omezeným měřítkem
Vvv Prázdný objem údolí povrchu s omezeným měřítkem
Sxp Extrémní hodnota výšky vrcholů
Str Poměr stran povrchové textury