Profil pürüzlülüğü: ISO 4287 ve ISO 13565'e göre ölçülebilir parametrelerin seçimi
| Ra | Tüm ölçüm uzunluğu boyunca aritmetik ortalama |
| Rq | Kare ortalama |
| Rt | Pürüzlülük profilinin toplam yüksekliği |
| Rmax | Tek bir ölçüm aralığı içindeki pürüzlülük profilinin maksimum yüksekliği |
| Rz | Pürüzlülük profilinin ortalama yüksekliği |
| Rp | Pürüzlülük profilindeki en yüksek profil tepe noktasının yüksekliği |
| Rv | Pürüzlülük profilindeki en büyük profil çukurunun derinliği |
| Rk | Çekirdek pürüzlülük derinliği, çekirdek alanının yüksekliği |
| Rpk | Azaltılmış tepe yüksekliği |
| Rvk | Azaltılmış çukur derinliği |
| Mr1 | Çekirdek alanının üzerindeki malzeme oranı (Abbott eğrisi) |
| Mr2 | Yük taşıyan malzeme oranı (Abbott eğrisi) |
| Rsm | ortalama oluk genişliği |
| RPc | tepe sayım değeri |
Yüzey pürüzlülüğü: ISO 25178-2 ve ISO 16610'a göre ölçülebilir parametrelerin seçimi
| Sa | ölçek sınırlı yüzeyin aritmetik ortalama yüksekliği |
| Sq | ölçek sınırlı yüzeyin ortalama karesel yüksekliği |
| Sp | ölçek sınırlı yüzeyin maksimum tepe yüksekliği |
| Sv | ölçek sınırlı yüzeyin maksimum çukur yüksekliği |
| Sz | ölçek sınırlı yüzeyin maksimum yüksekliği |
| S10z | Yüzeyin on nokta yüksekliği |
| Ssk | Ölçek sınırlı yüzeyin eğriliği |
| Sku | Ölçek sınırlı yüzeyin kurtosis |
| Sdq | Ölçek sınırlı yüzeyin ortalama karesel gradyanı |
| Sdr | Ölçek sınırlı bir yüzeyin gelişmiş geçiş yüzey oranı |
| FLT | Düzgünlük |
| Sk | Çekirdek yüksekliği |
| Spk | Azaltılmış tepe yüksekliği |
| Svk | Azaltılmış çukur yüksekliği |
| Smr1 | Tepelerdeki malzeme oranı |
| Smr2 | Çukurlarındaki malzeme oranı |
| Vmc | ölçek sınırlı bir yüzeyin çekirdek malzeme hacmi |
| Vmp | ölçek sınırlı bir yüzeyin tepe malzeme hacmi |
| Vvc | ölçek sınırlı bir yüzeyin çekirdeğinin boş hacmi |
| Vvv | ölçek sınırlı bir yüzeyin çukurlarının boş hacmi |
| Sxp | tepe yüksekliğinin aşırı değeri |
| Str | yüzey dokusunun en-boy oranı |