Технические характеристики

Вес установки

»mμFocus« с датчиком »zep« и подстольной системой 250 кг
»mμFocus« с датчиком »zep-R« и подстольной системой 270 кг
»mμFocus« с датчиком »zep« без подстольной системы 75 кг

Датчик »zep« для измерения геометрии режущей кромки

Ось Z 300 мм
AA (описывает наименьшее расстояние между объективом и измеряемым объектом) Проекция полосы 3
Принцип измерения 0 мм
Наименьший измеримый радиус 3 мкм
Числовая апертура

Датчик »zep-R« для измерения 3D-геометрии режущей кромки и шероховатости поверхности

Ось Z 300 мм
AA 20 мм
Принцип измерения Конфокальный микроскоп
Наименьший измеримый радиус 3 мкм (значения для 20-кратного объектива; значения для 50-кратного объектива: 1,4 мкм)
Числовая апертура 0,42 мм

Шероховатость профиля: выбор измеримых параметров в соответствии с ISO 4287 и ISO 13565

Ra среднее арифметическое по всей длине измерения
Rq среднее квадратичное отклонение
Rt общая высота профиля шероховатости
Rmax максимальная высота профиля шероховатости в пределах одного отрезка измерения
Rz средняя высота профиля шероховатости
Rp высота наибольшего пика в профиле шероховатости
Rv глубина наибольшей впадины профиля в профиле шероховатости
Rk глубина ядра, высота области ядра
Rpk редуцированная высота вершины
Rvk редуцированная глубина впадины
Mr1 доля материала над областью ядра (кривая Эбботта)
Mr2 доля материала, несущего нагрузку (кривая Эбботта)
Rsm средняя ширина канавки
RPc значение подсчета вершин

Шероховатость поверхности: выбор измеримых параметров в соответствии с ISO 25178-2 и ISO 16610

Sa средняя арифметическая высота поверхности с ограниченным масштабом
Sq среднеквадратичная высота поверхности с ограниченным масштабом
Sp максимальная высота вершины поверхности с ограниченным масштабом
Sv максимальная высота впадины поверхности с ограниченным масштабом
Sz максимальная высота поверхности с ограниченным масштабом
S10z Десятиточечная высота поверхности
Ssk Наклон поверхности, ограниченной масштабом
Sku Эксцесс поверхности, ограниченной масштабом
Sdq Среднеквадратичный градиент поверхности, ограниченной масштабом
Sdr Развитое соотношение переходных поверхностей поверхности, ограниченной масштабом
FLT Ровность
Sk Высота ядра
Spk Уменьшенная высота вершин
Svk Уменьшенная высота впадин
Smr1 Доля материала в вершинах
Smr2 Доля материала в впадинах
Vmc Объем материала ядра поверхности с ограниченным масштабом
Vmp Объем материала вершин поверхности с ограниченным масштабом
Vvc Пустой объем ядра поверхности с ограниченным масштабом
Vvv Пустой объем впадин поверхности с ограниченным масштабом
Sxp Экстремальное значение высоты вершин
Str Соотношение сторон текстуры поверхности