Dati tecnici

Pesi di appoggio

»mμFocus« con sensore »zep« e sistema sottobanco 250 »kg
mμFocus« con sensore »zep-R« e sistema sottobanco 270 »kg
mμFocus« con sensore »zep« senza sistema sottobanco 75 kg

Sensore »zep« per la misurazione della geometria del tagliente

Asse Z 300 mm
AA (descrive la distanza minima tra l'obiettivo e l'oggetto da misurare) Proiezione a strisce3
Principio di misurazione 0 mm
Raggio minimo misurabile 3 μm
Apertura numerica

Sensore »zep-R« per la misurazione della geometria di taglio 3D e della rugosità superficiale

Asse Z 300 mm
AA 20 mm
Principio di misurazione Microscopio confocale
Raggio minimo misurabile 3 μm (valori per obiettivo 20x; valori per obiettivo 50x: 1,4 μm)
Apertura numerica 0,42 mm

Rugosità del profilo: selezione dei parametri misurabili secondo ISO 4287 e ISO 13565

Ra media aritmetica su tutta la lunghezza di misura
Rv profondità della valle più grande nel profilo di rugosità
Rk profondità del nucleo, altezza dell'area centrale
Rpk altezza ridotta delle punte
Rvk profondità ridotta della scanalatura
Mr1 percentuale di materiale sopra l'area centrale (curva di Abbott)
Mr2 percentuale di materiale portante (curva di Abbott)
Rsm Larghezza media delle scanalature
RPc Valore di conteggio dei picchi

Rugosità della superficie: selezione dei parametri misurabili secondo ISO 25178-2 e ISO 16610

Sa altezza aritmetica media della superficie limitata dalla scala
Sq altezza quadratica media della superficie limitata dalla scala
Sp altezza massima delle punte della superficie limitata dalla scala
Sv altezza massima della depressione della superficie limitata dalla scala
Sz altezza massima della superficie limitata dalla scala
S10z altezza a dieci punti della superficie
Ssk asimmetria della superficie limitata in scala
Sku curtosi della superficie limitata in scala
Sdq gradiente quadratico medio della superficie limitata in scala
Sdr rapporto di transizione sviluppato di una superficie limitata in scala
FLT Planarità
Sk Altezza del nucleo
Spk Altezza ridotta delle punte
Svk Altezza ridotta delle valli
Smr1 Percentuale di materiale delle punte
Smr2 Percentuale di materiale delle valli
Vmc Volume del materiale del nucleo di una superficie limitata in scala
Vmp Volume del materiale delle creste di una superficie limitata in scala
Vvc Volume vuoto del nucleo di una superficie limitata in scala
Vvv Volume vuoto delle valli di una superficie limitata in scala
Sxp Valore estremo dell'altezza delle punte
Str Rapporto di aspetto della struttura superficiale